技術文章
機器視覺光源知識總結
日期：2019-06-04
來源：J9九游会中国
1.環形光源（LQ-HDRmmnn-C）：
光出射角度值在0°~90°。
0°~45°為低角度環形光源，目前應用案例包括手機金屬外框劃痕檢測、光滑表麵的劃痕、破損檢測以達到突顯物體輪廓及劃傷，破損的效果
60°~90°光出射角度集中照射被測物表麵，突顯物體的表麵對不同特性，應用案例有：電感錫麵檢測，USB接口網線接口等不同數據接口的pin針檢測，高爾夫球T端麵檢測，以及平麵噴碼檢測。
2.條形光源（LQ-HBLmmnn-C）
這款光源的特點為尺寸靈活小巧，可適應不同位置，主要適用於檢測較大方形結構被測物效果明顯。
目前應用案例包括裂紋，一維二維碼讀取。注塑件毛邊檢測，高爾夫球Tee文字檢測。
3.四麵可調光源(LQ-SQLmm-C)：
四個獨立可調的條形光源，可獨立控製亮度，安裝靈活，高亮度，高精度照明。應用領域：四側引腳扁平封裝的檢查。二維碼讀取，陶瓷包裝表麵檢查。
4.圓頂無影光源（LQ-DMLmm-C）：
光線經過球麵漫射板反射之後，光滑，均勻的照射在被測物體上，適用於被測物表麵起伏不平，反光的物體。應用案例進行曲麵，表麵凹凸，弧形檢測。金屬嗎、，玻璃反光較強的表麵檢測。
5.底部背光源（LQ-HFLmmnn-C）：
底部發光的標準背光源可應用於顯微鏡載物台，突出被測物的外形輪廓並由高密度的LED陣列提供高亮度的背光照明。應用於透明物體的毛邊，汙漬，劃痕檢測。
6.方形無影光源（LQ-PSFmm-C）：
適用於矩形和不規則被測物，提供矩形視野。應用案例：電池板斷線檢測，手機貼棉，貼膜位置邊緣校正，一維，二維碼識別。
7.AOI專用光源（LQ-HRLmmm-RGB）：
具有高亮度，均勻性好，空間分辨率高的特點；由三組獨立控製的環形光源以高中低不同角度照射電路板，很好的把電路板上的元件電極、焊盤、焊點等不用傾斜度的特征凸顯出來。應用領域多層次物體檢測，插件焊點檢測，貼裝，焊錫檢測。
8.點光源（LQ-PTw-C）
采用獨特的聚光效果（導光柱）實現均勻的照射應用利於包括液晶玻璃線路檢測，玻璃表麵劃痕檢測，插頭底部字符檢測。
9.線性光源（LQ-LNSmm-C）：
線性光，高強度光照明，目前應用案例：手機外殼表麵凹凸點，劃痕，汙漬檢測。使用特殊的鏡片使光線達到線性射出，並保持均勻，平滑。
10.同軸光源（LQ-CXLmm-C：
高強度均勻的光線通過分光鏡後與鏡頭同軸的光線，采用特殊材料抑製反光造成的重影。提高成像清晰度。適用於反光率高的被測便麵的劃痕，印字檢測。應用案例包括：激光打標字符，二維碼識別，反光率高的物體表麵的劃傷檢測。
0°~45°為低角度環形光源，目前應用案例包括手機金屬外框劃痕檢測、光滑表麵的劃痕、破損檢測以達到突顯物體輪廓及劃傷，破損的效果
60°~90°光出射角度集中照射被測物表麵，突顯物體的表麵對不同特性，應用案例有：電感錫麵檢測，USB接口網線接口等不同數據接口的pin針檢測，高爾夫球T端麵檢測，以及平麵噴碼檢測。
2.條形光源（LQ-HBLmmnn-C）
這款光源的特點為尺寸靈活小巧，可適應不同位置，主要適用於檢測較大方形結構被測物效果明顯。
目前應用案例包括裂紋，一維二維碼讀取。注塑件毛邊檢測，高爾夫球Tee文字檢測。
3.四麵可調光源(LQ-SQLmm-C)：
四個獨立可調的條形光源，可獨立控製亮度，安裝靈活，高亮度，高精度照明。應用領域：四側引腳扁平封裝的檢查。二維碼讀取，陶瓷包裝表麵檢查。
4.圓頂無影光源（LQ-DMLmm-C）：
光線經過球麵漫射板反射之後，光滑，均勻的照射在被測物體上，適用於被測物表麵起伏不平，反光的物體。應用案例進行曲麵，表麵凹凸，弧形檢測。金屬嗎、，玻璃反光較強的表麵檢測。
5.底部背光源（LQ-HFLmmnn-C）：
底部發光的標準背光源可應用於顯微鏡載物台，突出被測物的外形輪廓並由高密度的LED陣列提供高亮度的背光照明。應用於透明物體的毛邊，汙漬，劃痕檢測。
6.方形無影光源（LQ-PSFmm-C）：
適用於矩形和不規則被測物，提供矩形視野。應用案例：電池板斷線檢測，手機貼棉，貼膜位置邊緣校正，一維，二維碼識別。
7.AOI專用光源（LQ-HRLmmm-RGB）：
具有高亮度，均勻性好，空間分辨率高的特點；由三組獨立控製的環形光源以高中低不同角度照射電路板，很好的把電路板上的元件電極、焊盤、焊點等不用傾斜度的特征凸顯出來。應用領域多層次物體檢測，插件焊點檢測，貼裝，焊錫檢測。
8.點光源（LQ-PTw-C）
采用獨特的聚光效果（導光柱）實現均勻的照射應用利於包括液晶玻璃線路檢測，玻璃表麵劃痕檢測，插頭底部字符檢測。
9.線性光源（LQ-LNSmm-C）：
線性光，高強度光照明，目前應用案例：手機外殼表麵凹凸點，劃痕，汙漬檢測。使用特殊的鏡片使光線達到線性射出，並保持均勻，平滑。
10.同軸光源（LQ-CXLmm-C：
高強度均勻的光線通過分光鏡後與鏡頭同軸的光線，采用特殊材料抑製反光造成的重影。提高成像清晰度。適用於反光率高的被測便麵的劃痕，印字檢測。應用案例包括：激光打標字符，二維碼識別，反光率高的物體表麵的劃傷檢測。
