蘋果logo形貌測量
日期：2021-09-01
來源：J9九游会中国
測量要求
掃描手機殼上蘋果logo的三維形貌，提取profile測量不同位置的段差
主要特點概覽
1.非接觸式測量，一體化設計
2.三維形貌掃描，多功能數據處理
3.適用於各種材料的精確測量
4.使用簡單，裝拆方便
5.掃描速度快，定位精度高
6.±0.5到±1μm重複精度保證
7.穩定性高，抗幹擾能力強
測量結果
不同位置段差不同，基本在0到15μm之間
解決現階段測量裝置存在的問題
1.磨損量小，測定困難
2.對材料有一定要求接觸式測量，對測量材料有損
3.壞磨損位置不確定，測量速度慢精度低，測量誤差大
4.結構複雜，成本高
